电控MCU 老化测试台架_

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电控MCU 老化测试台架

PPK/EPP/PPU PV阶段在实验室，全面和综合的解决方案

适配产品： MCU
出入料方式：人工上下料
节拍（CT）：无

PPK/EPP/PPU耐久测试台架是为PPK/EPP/PPU而设计的高性能耐久测试台架，为6工位设计，ECU为电机提供电流输出扭矩，伺服电机提供不同转速下的负载，确保了测试的高精度和高效性，满足市场上常见的PPK/EPP/PPU耐久测试需求，可实现各种自定义的路谱曲线测试的需求。

产品特点竞争优势技术参数

产品特点

● 软件兼容性强，模块化设计，配置灵活，适配不同产品的测试需求

● 结构设计模块化，通过换型实现多机种的测试

● 稳定性高，故障率低，一次最长的测试周期是6个月

竞争优势

PPK/EPP/PPU耐久测试台架具备较高的测试兼容性和高效性表现，同时具备出色的稳定性和低故障率，为PPK/EPP/PPU提供了高效率和高可靠性的解决方案。

技术参数

检测项目	关键技术参数
1. 路谱曲线耐久； 2. 任意波形曲线耐久；

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