● 多尺寸芯片适配
● 中等UPH适合多种生产规模
● 提供高标准和高分辨率的检测
● 零误检和低误判率确保产品质量
● 设备稳定性高，维护需求低
A04011的设计致力于满足高分辨率LCOS芯片领域对精准度和可靠性的苛刻要求。它的先进成像系统确保了从微小到大尺寸芯片的每一个细节都不会被遗漏，实现几乎完美的检测。超高的精细检测能力和接近零的Under Kill率，A04011极大地减少了成品中的缺陷风险，提高了最终用户的满意度。同时，其维护需求低且高效的运行能力，降低了生产成本，这使得A04011成为那些寻求在竞争中获得优势的LCOS芯片制造商的理想选择。
| 芯片检测范围 | 3*3mm~25*25mm |
| 出入料方式 | Carrier Tray /JEDEC Tray |
| UPH （20） | ~1500 |
| 视野范围 | 22*22mm |
| 最小检测缺陷 (玻璃层/锡球） | 10um |
| 最小检测缺陷 (玻璃下） | 5um |
| Under Kill (不良品判为良品) | 0 |
| Over Kill (良品判为不良品） | <2% |
| Jam Rate | <1/2000 |
| 设备大小 | 3200*2900*2400 |
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