● 适应从极小到中等尺寸的芯片测试
● 高效率测试与H06161M一致
● 适合高精度小批量生产的高UPH
● 极低故障率优化设备稳定性
H06161H型号的设计考虑了对小型芯片的精准测试需求。它的快速处理能力、低故障率以及高精度的测试结果，特别适合精密工艺和高质量控制标准的生产环境。提供稳定而高效的生产流程，这款机型是追求精度和效率的理想选择。
| 芯片检测范围 | 0.5*0.5mm~25*25mm |
| 出入料方式 | Carrier Tray /JEDEC Tray |
| Test Site | 2, 4, 8, 16 |
| Index Time | ~6S |
| UPH（test time: 9S) | ~2700 (16sites，>2mm） |
| Jam Rate | <1/4000(>3mm);1/2000(2~3mm);1/1000(<2mm) |
| 温度范围 | 常温~120度，150（option） |
| 与测试机通讯方式 | TCP/IP |
| 对应产品类型 | CIS、光感器件 |
| 设备大小 | 2200L*1600W*2300H |
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