● 灵活的测试位点选择，适配不同规模需求
● 快速测试周期，提高生产流程效率
● 高UPH适应中到高批量生产环境
● 低故障率减少停机与维护
H06162M的强大多位测试能力和高UPH表现，结合其出色的稳定性和低故障率，为中至大型的芯片生产商提供了高效率与高可靠性的完美解决方案。这款设备能够有效提高生产线的性能，同时减少维护和停机时间，为客户提供更佳的经济效益。
| 芯片检测范围 | 2*2mm~70*70mm |
| 出入料方式 | Carrier Tray /JEDEC Tray |
| Test Site | 2, 4, 8, 16 |
| Index Time | ~6S |
| UPH（test time: 9S) | ~2700 (16sites） |
| Jam Rate | <1/4000(>3mm);1/2000(2~3mm) |
| 温度范围 | 常温~120度，150（option） |
| 与测试机通讯方式 | TCP/IP |
| 对应产品类型 | CIS、光感器件 |
| 设备大小 | 2200L*1600W*2300H |
立即咨询
返回列表
