● 高效率生产：能够同时对上下两面进行快速检测，显著提升生产流程速度
● 成本效益：在保证检测质量的同时，为客户提供一个经济实惠的选择，降低总体生产成本
● 易于集成：无论是新建线还是升级旧线，2面leadscan都能轻松集成，无缝对接生产流程
A02021的超高UPH与高精度检测能力相结合，为芯片制造商提供了一个既能提高产能又能保障产品质量的理想选择。它在确保测试精确的同时，极大地提升了生产效率和产品的良率，使得生产线更具竞争力。
| 芯片检测范围 | 2*2mm~20*20mm（超过20需定制） |
| 出入料方式 | Carrier Tray /JEDEC Tray |
| UPH （20） | >5400 |
| 视野范围 | 22*22mm |
| 最小检测缺陷 (玻璃层/锡球） | 10um |
| Under Kill (不良品判为良品) | 0 |
| Over Kill (良品判为不良品） | <2% |
| Jam Rate | <1/2000 |
| 设备大小 | 2300*2100*2400 |
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